標(biāo)準(zhǔn)配置 (主機(jī)背面)
測(cè)試點(diǎn)數(shù)可調(diào)整.可根據(jù)需要的掃描速度及分辨率來設(shè)置. 根據(jù)不同用途可改變掃描方向. 同時(shí)具有客戶功能, 可以僅對(duì)某一段進(jìn)行掃描, 特別是在自動(dòng)測(cè)試時(shí)可以實(shí)現(xiàn)高速且高分辨率的測(cè)試(附圖)
限制掃描功能 (選件CS-800)
在一般的掃描測(cè)試中加入電流, 電壓的限制功能. 限制在被測(cè)模塊上印加的電流值, 電壓值以起到保護(hù)作用. 也可在達(dá)到目標(biāo)值時(shí)停止掃描(附圖)
Vth-hFE自動(dòng)檢測(cè)功能(選件CS-800)
可在條件設(shè)?后進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試, 避免了之前的繁雜操作
Constant 功能 (選件CS-800)
可印加規(guī)定電壓或規(guī)定電流. 與CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件配合使用時(shí), 可使用半導(dǎo)體曲線圖示儀進(jìn)行自動(dòng)疲勞測(cè)試
溫度特性測(cè)試 (選件CS-810)
通過CS-810半導(dǎo)體測(cè)試軟件對(duì)曲線圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板的自動(dòng)控制, 實(shí)現(xiàn)溫度特性評(píng)估試驗(yàn)的全自動(dòng)測(cè)試 (附圖)
CS-810是一個(gè)可安裝于電腦中的選件應(yīng)用軟件. 通過以太網(wǎng)控制圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板等設(shè)備, 經(jīng)簡單的設(shè)置后就可將一直以來只能手動(dòng)測(cè)試的曲線圖示儀實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試, 大幅地提升工作效率
全自動(dòng)化測(cè)試:測(cè)試→記錄→判斷. 提高品管和品檢的工作效率 (附圖)

模塊或數(shù)個(gè)芯片, 器件自動(dòng)切換測(cè)試
可自動(dòng)控制加熱板, 全自動(dòng)進(jìn)行六合一模塊的溫度特性測(cè)量
測(cè)試結(jié)果窗口 (附圖)
波形比較功能: 可將產(chǎn)品開發(fā)時(shí)的不穩(wěn)定狀態(tài)或不良分析時(shí)測(cè)得的多個(gè)波形進(jìn)行同屏比較, 或通過波形比較來判斷是否合格 (附圖)
產(chǎn)品應(yīng)用
適用于高電壓或高電流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測(cè)試
電力電子器件 (如 SiC和GaN) 的電容測(cè)量 (選件CS-603A/CS-605A)
可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
靜態(tài)特性測(cè)試包括漏電流, 飽和電壓, VF和Vth (附圖)
傳輸特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路模塊的測(cè)試功能
器件測(cè)試
可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行多個(gè)器件的測(cè)試和記錄. 操作員只需根據(jù)器件替換和連接更改來輸入樣本名稱, 以重復(fù)相同的測(cè)試. 在既定條件下判斷 (通過/失敗) 將顯示每個(gè)測(cè)試與圖像和波形數(shù)據(jù)也將自動(dòng)存儲(chǔ)(附圖)
半導(dǎo)體溫度特性測(cè)試評(píng)估

CS-3100 CS-5300 IWATSU CS-5200/3200/3300 巖崎IGBT半導(dǎo)體曲線,
半導(dǎo)體特性曲線圖示儀 CS-3000系列 (符合 UL 規(guī)格)規(guī)格

項(xiàng)目 CS-3100 CS-3200 CS-3300
集電極電源
模式 高電壓 AC、±全波整流、± DC、±LEAKAGE
大電流 - 脈沖
大峰值功率
120 mW、1.2 W、12 W、120 W、390 W
*可以選擇390 W（不含3000 V范圍下的大峰值電壓設(shè)置）。

- 大電流模式（400 W、4 kW） 大電流模式（400 W、4 kW、10 kW）
高電壓模式
大峰值電流
（大峰值脈沖電流） 大峰值電壓
75 mA (150 mA) 3000 V（2500 V，AC）
750 mA (1.5 A) 300 V
7.5 A (15 A) 30 V