大規(guī)模集成電路測試儀器 > 數(shù)字電路測試系統(tǒng)學科領域:信息與系統(tǒng)科學相關工程與技術主要技術指標:無主要功能:用于器件建模平臺的0.03Hz到40MHz低頻1/f噪聲測量,支持FET、BJT、Diode、Resist" />
儀器名稱:
1/f噪聲測試系統(tǒng)
英文名稱:
所屬分類:
電子測量儀器 > 大規(guī)模集成電路測試儀器 > 數(shù)字電路測試系統(tǒng)
學科領域:
信息與系統(tǒng)科學相關工程與技術
主要技術指標:
無
主要功能:
用于器件建模平臺的0.03Hz到40MHz低頻1/f噪聲測量,支持FET、BJT、Diode、Resister以及電阻的測量