優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心 SEM+EDS分析測(cè)試范圍
1.IMC檢查（IMC Inspection）
2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection）
3.元素分析（Element Analysis）
4.金屬顆粒觀察（Observation of metal particles）

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)昆山檢測(cè)中心SEM+EDS分析通過CNAS認(rèn)可，可執(zhí)行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等

掃描電子顯微鏡（掃描電鏡SEM）：一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。