礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構的儀器。它利用光的特性來測量礦石樣品在不同波長下的吸收、反射和透射情況,從而推斷出礦石的組成和特性。
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全新設計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正,即所有基質(zhì)效應,增強和吸收。
譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。
礦石光譜分析儀能夠快速、準確地分析礦石中的各種元素和化合物,幫助礦石開采和加工企業(yè)更好地了解礦石的成分和特性。它們可以在礦山現(xiàn)場或?qū)嶒炇抑惺褂?,提供實時的結(jié)果,幫助企業(yè)做出決策。
鐵精粉光譜儀是一種用于分析和檢測鐵精粉樣品的儀器。它通過測量樣品與電磁輻射之間的相互作用,獲得樣品的光譜信息,從而分析樣品的組成、結(jié)構和性質(zhì)。
鐵精粉光譜儀通常采用光學原理,包括可見光、紅外光和紫外光等波長范圍。它通過將樣品暴露在特定波長的光下,測量樣品對光的吸收、散射或發(fā)射等特性,然后根據(jù)這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀,可以對鐵精粉樣品的化學成分、晶體結(jié)構、雜質(zhì)含量和物理性。
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