垂直探針可以對(duì)應(yīng)高密度信號(hào)觸點(diǎn)的待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品的細(xì)間距排列，針尖接觸待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的縱向位移可以通過(guò)針體本身的彈性變形來(lái)提供。懸臂探針為探針部提供適當(dāng)?shù)目v向位移，用于通過(guò)橫向懸臂接觸待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品，以避免探針部對(duì)待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品施加過(guò)大的針壓。

由于半導(dǎo)體產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程十分復(fù)雜，任何一個(gè)環(huán)節(jié)出現(xiàn)錯(cuò)誤都可能導(dǎo)致大量產(chǎn)品質(zhì)量不合格，甚至對(duì)終的應(yīng)用產(chǎn)品的性能產(chǎn)生重大影響。因此，測(cè)試在半導(dǎo)體產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程中具有非常重要的地位，貫穿于半導(dǎo)體產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造、包裝和應(yīng)用的整個(gè)過(guò)程中。

探針的要求

（1）質(zhì)量問(wèn)題：在使用過(guò)程中應(yīng)定期進(jìn)行質(zhì)量檢查。探針的質(zhì)量差會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差增大，嚴(yán)重時(shí)可能會(huì)損壞實(shí)驗(yàn)設(shè)備。

（2）加工工藝問(wèn)題：在探針的制作過(guò)程中，要探針的形狀、尺寸的與穩(wěn)定。

（3）使用注意事項(xiàng)：避免在測(cè)量過(guò)程中引入空氣，勿使用有陷進(jìn)、連續(xù)的探針以免擾動(dòng)測(cè)量，對(duì)于使用多個(gè)探針進(jìn)行測(cè)量的情況要確保探針之間的長(zhǎng)度和間距足夠。

（4）存儲(chǔ)和保養(yǎng)問(wèn)題：盡可能地存儲(chǔ)環(huán)境無(wú)除塵、避光性好；探針表面不能有刮傷等損壞，使用前應(yīng)清洗干凈且消毒處理。

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