AT-01在線測(cè)試儀 使用設(shè)備之前，對(duì)設(shè)備本身的測(cè)試板和繼電器板進(jìn)行檢測(cè)，并且將其測(cè)試結(jié)果顯示在屏幕上，您可通過測(cè)試結(jié)果判斷設(shè)備能否正常工作，以產(chǎn)品測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性 AT-01在線測(cè)試儀 條形碼輸入

AT-01在線測(cè)試儀 Frame Scan&Delta Scan的概要 結(jié)構(gòu)掃描和三點(diǎn)掃描是由美國泰瑞達(dá)公司開發(fā)的技術(shù)，是為了檢測(cè)生產(chǎn)過程中發(fā)生的包括IC接腳的虛焊，冷焊在內(nèi)的各種復(fù)雜不佳現(xiàn)象開發(fā)而成的*技術(shù)。隨著SMT IC的普及應(yīng)用，各種封裝模式由原來的插件形式改為PGA，BGA和CSP形式，快速的向電路板部件高密集化發(fā)展。AT-01就是為了適應(yīng)上述技術(shù)變化，特別裝載了美國泰瑞達(dá)公司的結(jié)構(gòu)掃描和三點(diǎn)掃描，使其技術(shù)的融合到AT-01，做到了測(cè)試速度快，性價(jià)比測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定等特點(diǎn)的值得您信賴的在線測(cè)試儀。 AT-01在線測(cè)試儀

AT-01在線測(cè)試儀 結(jié)構(gòu)掃描的特點(diǎn) 1. 快速準(zhǔn)確的檢測(cè)出SMT部件的開路 2 .可以檢測(cè)BUS部件 3. Capacitive Coupling Test 4. 可準(zhǔn)確的測(cè)試連接器和插座及插口 5. 測(cè)試速度非常快 6. 無須部件技術(shù)參數(shù) 7. 不影響板子的細(xì)微形象

AT-01在線測(cè)試儀 三點(diǎn)掃描的特點(diǎn) 1.無須另外追加硬件治具 2.無部件封裝模式的限制 3.可檢測(cè)出含冷焊在內(nèi)的各種故障 4.對(duì)尺寸大的數(shù)字部件特別有效 5.測(cè)試速度快，檢測(cè)率高 AT-01在線測(cè)試儀

全球大型ICT測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有安捷倫(美國)，泰瑞達(dá)(美國)、德智（DEZHI)、JET(捷智）、Tr(德利泰)、SRC星河等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。上世紀(jì)80年代前后，日本將美國同類產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。

80年代臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，臺(tái)灣開始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開始，國內(nèi)即有開發(fā)類似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國本土品牌更日本韓國臺(tái)灣及香港開發(fā)出全亞洲臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至今日，美國泰瑞達(dá)和安捷倫仍是，成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!

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